DSpace О системе DSpace
україн русск eng
[Зарегистрироваться]
 

Repository at Odesa I.Mechnikov National University >
Фізичний факультет >
"Сенсорна електроніка і мікросистемні технології" >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/2271

Название: ТЕОРЕТИЧНІ АСПЕКТИ МОДЕЛЮВАННЯ ТА ПРОЕКТУВАННЯ РЕЗОНАТОРНИХ ЗОНДІВ ДЛЯ СКАНУЮЧОЇ МІКРОХВИЛЬОВОЇ МІКРОСКОПІЇ
Другие названия: ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ АСПЕКТІЫ МОДЕЛИРОВАНИЯ И ПРОЕКТИРОВАНИЯ РЕЗОНАТОРНЫХ ЗОНДОВ ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕЙ МИКРОВОЛНОВОЙ МИКРОСКОПИИ
THE THEORETICAL ASPECTS OF MODELLING AND DESIGNING OF RESONATOR PROBES FOR SCANNING MICROWAVE MICROSCOPY
Авторы: Гордієнко, Ю. О.
Ларкін, С. Ю.
Лепіх, Я. І.
Лєнков, С. В.
Проценко, В. О.
Ваків, М. М.
Gordienko, Yu. E.
Lеrkin, S.Yu.
Lenkov, S. V.
Procenko, V. O.
Vakiv, M. M.
Гордиенко, Ю. Е.
Ларкин, С. Ю.
Лепих, Я. И.
Ленков, С. В.
Проценко, В. О.
Вакив, М. М.
Ключевые слова: скануюча мікрохвильова мікроскопія (СММ)
резонаторний зонд
добротність
резонансна частота
просторова роздільна здатність (ПРЗ)
напівпровідник
діелектрична проникність
сканирующая микроволновая микроскопия (СММ)
резонаторный зонд
добротность
резонансная частота
пространственная разрешающая способность (ПРС)
полупроводник
диэлектрическая проницаемость
scanning microwave microscopy (SMM)
resonator probe
quality factor
resonance frequency
spacial resolving capacity (SRC)
semiconductor
dielectric permittivity
Дата публикации: 2011
Издатель: Астрапринт
Источник: Сенсорна електронiка i мiкросистемнi технологiї = Sensor Electronics and Microsystem
Серия/номер: ;Т.2(8),№3 С.97-107
Краткий осмотр (реферат): У роботі обґрунтовано загальні підходи до оцінки впливу характеристик резонаторних зондів на просторову роздільну здатність та контрастність зображень в скануючій мікрохвильовій мікроскопії. Зокрема, якісно і кількісно установлені залежності сигналів сканування, що пов язані зі зміною об єктом добротності та резонансної частоти зондів, від геометрії коаксіальної апертури, форми вістря та величини зазору між зондом і об єктом. Для фізичного обґрунтування цих залежностей чисельно досліджено розподіл ближнього поля при різних характеристиках. Особливо відзначено перехід від «трубчатого» характеру розподілу поля при сплощеному вістрі до квазігаусового при наданні йому сферичної форми.Встановлені аспекти можно використовувати при оптимальному проектуванні резонаторних зондів для мікрохвильових мікроскопів різного призначення.
В работе обоснованы общие подходы к оценке влияния характеристик резонаторных зондов на пространственную разрешающую способность и контрастность изображений в сканирующей микроволновой микроскопии. В частности, качественно и количественно установлены зависимости сигналов сканирования, которые связаны с изменением объектом добротности и резонансной частоты зондов, от геометрии коаксиальной апертуры, формы острия и величины зазора между зондом и объектом. Для физического обоснования этих зависимостей численно исследовано распределение ближнего поля при различных характеристиках. Особенно отмечен переход от «трубчатого» характера распределения поля при уплощенном острии к квазигауссовому с приданием ему сферической формы.Установленные аспекты можно использовать при оптимальном проектировании резонаторных зондов для микроволновых микроскопов разного назначения.
In the work the general approaches to an estimation of influence of characteristics resonator probes on spatial resolution and contrast of images in scanning microwavе microscopy are proved.In particular, the dependences of scanning signals which are caused by influence of object of research on a value of quality factor and resonance frequency of probes from geometry of the coaxial aperture, the form of an edge and gap size between a probe and object are qualitatively and quantitatively established. For a physical substantiation of these dependences on the specified characteristics there were three dimensional distributions of a near field numerically investigated. Transition from «tubular» character of distribution of a field, which is characteristic for the flat form of an edge, to quasigaussian distribution of a field for the spherical form of an edge is especially pointed.The established dependences can be used for optimum designing of resonator probes of microwave microscopes for different function.
Описание: Сенсорна електронiка i мiкросистемнi технологiї = Sensor Electronics and Microsystem Technologies : наук.-техн. журнал. - Одеса : Астропринт,2011 - T.2(8)3,- укр.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/2271
Располагается в коллекциях:"Сенсорна електроніка і мікросистемні технології"

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
sens3_11 97-107.pdf1,06 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

п╞пҐпЄп╣п╨я│ я├п╦я┌п╦я─п╬п╡п╟пҐп╦я▐ DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь