Skip navigation
Home
Browse
Communities
& Collections
Browse Items by:
Issue Date
Author
Title
Subject
Help
Language
English
українська
Sign on to:
My DSpace
Receive email
updates
Edit Profile
elONUar – Electronic Repository of Odesa I. I. Mechnikov National University
Search
Search:
All of DSpace
Наукові видання ОНУ
Сенсорна електроніка і мікросистемні технології
for
Current filters:
Title
Author
Subject
Date Issued
Has File(s)
Equals
Contains
ID
Not Equals
Not Contains
Not ID
Start a new search
Add filters:
Use filters to refine the search results.
Title
Author
Subject
Date Issued
Has File(s)
Equals
Contains
ID
Not Equals
Not Contains
Not ID
Results 1-9 of 9 (Search time: 0.006 seconds).
previous
1
next
Item hits:
Preview
Issue Date
Title
Author(s)
2010
УНІВЕРСАЛЬНА МОДЕЛЬ ПРОЦЕСУ ФУНКЦІОНУВАННЯ ІНФОРМАЦІЙНОГО ОБ’ЄКТА В ІНТЕЛЕКТУАЛЬНІЙ СИСТЕМІ УПРАВЛІННЯ
Барабаш, О. В.
;
Лєнков, С. В.
;
Лепіх, Ярослав Ілліч
;
Балабін, В. В.
;
Савченко, В. А.
;
Плосконос, І. М.
;
Слюняєв, А. С.
;
Barabash, O. V.
;
Lenkov, S. V.
;
Lepikh, Yaroslav I.
;
Balabin, V. V.
;
Savchenko, V. A.
;
Ploskonos, I. M.
;
Slyunyaev, A. S.
;
Барабаш, О. В.
;
Ленков, С. В.
;
Лепих, Ярослав Ильич
;
Балабин, В. В.
;
Савченко, В. А.
;
Плосконос, И. М.
;
Слюняев, А. С.
2009
УЗАГАЛЬНЕНИЙ КОМПЛЕКСНИЙ ПОКАЗНИК ЯКОСТІ КРЕМНІЄВИХ ФОТОЕЛЕКТРИЧНИХ ПЕРЕТВОРЮВАЧІВ ДЛЯ АПАРАТУРИ СПЕЦІАЛЬНОГО ПРИЗНАЧЕННЯ
Лєнков, С. В.
;
Лепіх, Ярослав Ілліч
;
Мокрицький, В. А.
;
Лукомський, Д. В.
;
Охрамович, М. М.
;
Lenkov, S. V.
;
Lepikh, Yaroslav I.
;
Mokritsky, V. A.
;
Lukomsky, D. V.
;
Ohramovich, M. M.
;
Лепих, Ярослав Ильич
2008
МЕРЫ ПОВЫШЕНИЯ НАДЕЖНОСТИ ЭЛЕКТРОЛЮМИНЕСЦЕНТНЫХ ИНДИКАТОРОВ
Ленков, С. В.
;
Гунченко, Ю. А.
;
Жеревчук, В. В.
;
Лепих, Ярослав Ильич
;
Ленков, С. В.
;
Гунченко, Ю. О.
;
Жеревчук, В. В.
;
Лепіх, Ярослав Ілліч
;
Lenkov, S. V.
;
Gunchenko, J. A.
;
Zherevchuk, V. V.
;
Lepikh, Yaroslav I.
2010
Радиационная модификация спектров фотолюминесценции арсенида галлия
Лепих, Ярослав Ильич
;
Мокрицкий, В. А.
;
Ленков, С. В.
;
Банзак, О. В.
;
Гунченко, Ю. А.
;
Лепіх, Ярослав Ілліч
;
Мокрицький, В. А.
;
Лєнков, С. В.
;
Гунченко, Ю. О.
;
Lepikh, Yaroslav I.
;
Mokritsky, V. A.
;
Lenkov, S. V.
;
Banzak, O. V.
;
Gunchenko, Yu. A.
2011
Обеспечение метрологической надежности кондуктометрических систем с дифференциальными датчиками.
Мельник, В. Г.
;
Дзядевич, С. В.
;
Новик, А. И.
;
Погребняк, В. Д.
;
Слицкий, А. В.
;
Лепих, Ярослав Ильич
;
Ленков, С. В.
;
Проценко, В. О.
;
Дзядевич, С. В.
;
Новік, А. І.
;
Сліцький, О. В.
;
Лепіх, Ярослав Ілліч
;
Лєнков, С. В.
;
Проценко, В. О.
;
Melnyk, V. G.
;
Dzyadevych, S. V.
;
Novik, A. I.
;
Pogrebnyak, V. D.
;
Slitskiy, A. V.
;
Lepikh, Yaroslav I.
;
Lenkov, S. V.
;
Procenko, V. O.
2011
ТЕОРЕТИЧНІ АСПЕКТИ МОДЕЛЮВАННЯ ТА ПРОЕКТУВАННЯ РЕЗОНАТОРНИХ ЗОНДІВ ДЛЯ СКАНУЮЧОЇ МІКРОХВИЛЬОВОЇ МІКРОСКОПІЇ
Гордієнко, Ю. О.
;
Ларкін, С. Ю.
;
Лепіх, Ярослав Ілліч
;
Лєнков, С. В.
;
Проценко, В. О.
;
Ваків, М. М.
;
Gordienko, Yu. E.
;
Lеrkin, S.Yu.
;
Lenkov, S. V.
;
Procenko, V. O.
;
Vakiv, M. M.
;
Гордиенко, Ю. Е.
;
Ларкин, С. Ю.
;
Лепих, Ярослав Ильич
;
Ленков, С. В.
;
Проценко, В. О.
;
Вакив, М. М.
;
Lepikh, Yaroslav I.
2011
ОБЕСПЕЧЕНИЕ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ КОНДУКТОМЕТРИЧЕСКИХ СИСТЕМ С ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫМИ ДАТЧИКАМИ
Мельник, В. Г.
;
Дзядевич, С. В.
;
Новик, А. И.
;
Погребняк, В. Д.
;
Слицкий, А. В.
;
Лепих, Ярослав Ильич
;
Ленков, С. В.
;
Проценко, В. О.
;
Новік, А. І.
;
Сліцький, О. В.
;
Лепіх, Ярослав Ілліч
;
Проценко, В. О.
;
Melnyk, V. G.
;
Dzyadevych, S. V.
;
Novik, A. I.
;
Pogrebnyak, V. D.
;
Slitskiy, A. V.
;
Lepikh, Yaroslav I.
;
Lenkov, S. V.
;
Procenko, V. O.
2007
Аналіз ефективності оптичних цифрових імпульсних фазометрів
Лєнков, С. В.
;
Лепіх, Ярослав Ілліч
;
Видолоб, В. В.
;
Перегудов, Д. О.
;
Lenkov, S. V.
;
Lepikh, Yaroslav I.
;
Vydolob, V. V.
;
Peregudov, D. A.
;
Ленков, С. В.
;
Лепих, Ярослав Ильич
;
Выдолоб, В. В.
;
Перегудов, Д. А.
2009
СРАВНИТЕЛЬНЫЙ АНАЛИЗ ВЛИЯНИЯ БЫСТРЫХ ЭЛЕКТРОНОВ И НЕЙТРОНОВ НА ЭПИТАКСИАЛЬНЫЕ СЛОИ АРСЕНИДА ГАЛЛИЯ
Мокрицкий, В. А.
;
Завадский, В. А.
;
Ленков, С. В.
;
Лепих, Ярослав Ильич
;
Банзак, О. В.
;
Mokritsky, V. A.
;
Zavadsky, V. A.
;
Lenkov, S. V.
;
Lepikh, Yaroslav I.
;
Banzak, O. V.
;
Мокрицький, В. А.
;
Завадський, В. А.
;
Лєнков, С. В.
;
Лепіх, Ярослав Ілліч
;
Банзак, О. В.
Discover
Author
9
Lepikh, Yaroslav I.
9
Лепих, Ярослав Ильич
9
Лепіх, Ярослав Ілліч
7
Ленков, С. В.
7
Лєнков, С. В.
3
Mokritsky, V. A.
3
Procenko, V. O.
3
Мокрицький, В. А.
3
Проценко, В. О.
2
Banzak, O. V.
.
next >
Subject
1
an intellectual component
1
arsenide of gallium
1
brightness
1
defects
1
dielectric permittivity
1
electrons
1
epitaxial layer
1
etching pits
1
gallium arsenide
1
hermiticity
.
< previous
next >
Date issued
3
2011
2
2009
2
2010
1
2007
1
2008
Has File(s)
9
true