Atom Force Microscopy of SnO2 Nano Layers
Вантажиться...
Файли
Дата
2006
Науковий керівник
Укладач
Редактор
Назва журналу
Номер ISSN
Номер E-ISSN
Назва тому
Видавець
Анотація
The gas sensitivity applied problems
solutions need a consideration and detailed
investigation of the material's electronic and ionic
subsystems' behavior. These systems' behavior at
their own turn is tightly connected with the
structure and morphology of surfaces. The
morphology investigations results are given for the
SnO2 layers obtained with the polymers usage.
Опис
Ключові слова
gas, sensitivity applied, solutions need
Бібліографічний опис
IEEE International Semiconductor Conference (CAS 2006).