Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/11624
Назва: | Polarization Characteristics of Surface Plasmon Resonance in SnO2 Nanocluster Films |
Автори: | Hrinevych, Viktor S. Maksymenko, L. S. Matiash, I. E. Mischuk, O. N. Rudenko, S. P. Serdeha, B. K. Smyntyna, Valentyn A. Filevska, Liudmila M. |
Бібліографічний опис: | Физика и техника полупроводников |
Дата публікації: | 2011 |
Ключові слова: | plasmon resonance electromagnetic radiation |
Серія/номер: | ;Т. 45, № 11. |
Короткий огляд (реферат): | Internal reflection features caused by the surface plasmon resonance in nanoscale films contain ing defect tin dioxide clusters in the stoichiometric dielectric matrix are studied by the method of polarization modulation of electromagnetic radiation. The angular and spectral characteristics of reflectances and of s and p polarized radiation and their polarization difference ρ = – are measured in the wavelength range λ = 400–1600 nm. The experimental characteristics ρ(θ, λ) (θ is the radiation incidence angle) obtained represent the optical property features associated with the film structure and morphology. Surface plasmon polaritons and local plasmons excited by s and p polarized radiation are detected; their frequency and relaxation properties are determined. The structural sensitivity of the technique for studying the surface plasmon resonance for tin dioxide films is shown. |
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/11624 |
Інші ідентифікатори: | DOI: 10.1134/S1063782611110108 |
Розташовується у зібраннях: | Статті та доповіді ФМФІТ |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
1525-1532.pdf | 392.95 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.