Поляризационные характеристики поверхноcтного плазмонного резонанса в нанокластерных пленках SnO2
Вантажиться...
Дата
2011
Науковий керівник
Укладач
Редактор
Назва журналу
Номер ISSN
Номер E-ISSN
Назва тому
Видавець
Анотація
Методом поляризационной модуляции электромагнитного излучения исследованы особенности внутреннего
отражения, обусловленные поверхностным плазмонным резонансом в наноразмерных пленках,
содержащих кластеры дефектного диоксида олова в диэлектрической матрице стехиометрического состава.
В диапазоне длин волн 2 = 400—1600 нм измерены угловые и спектральные характеристики коэффициентов
отражения R2 и R2p излучения s- и р-поляризации и их поляризационной разности р = R2—R2p. Полученные
экспериментальные характеристики р(6, 2) (в — угол падения излучения) отражают особенности оптических
свойств, связанные со структурой и морфологией пленок. Обнаружены поверхностные плазмон-поляритоны,
а также локальные плазмоны, возбуждаемые s- и р-поляризованным излучением, определены их частотные
и релаксационные свойства. Установлена структурная чувствительность методики исследования поверхностного
плазмонного резонанса для пленок диоксида олова.
Methods of modulation of polarized electromagnetic radiation were used in the work for the surface plasmon resonance phenomenon investigation. Peculiarities of internal reflections, caused by surface plasmon resonance in nanosized composite films containing faulty tin dioxide clusters in stoichiometric matrix were studied. The angle and spectral characteristics of R2S and R2p reflection indexes of radiation with s- and p-polarization, both with their polarization difference p = R2 — R2 are measured in the wavelength range of 2 = 400—1600 nm. The obtained experimental characteristics p(6, 2) (в — angle of incidence) reflect peculiarities of the optical properties connected with film structure and morphology. Both surface plasmon-polaritons and local plasmons excited by s- and p-polarized radiation were detected. Their frequency and relaxation properties were obtained. The surface plasmon rasonance investigation procedure is established to be sensitive for tin dioxide film structure.
Methods of modulation of polarized electromagnetic radiation were used in the work for the surface plasmon resonance phenomenon investigation. Peculiarities of internal reflections, caused by surface plasmon resonance in nanosized composite films containing faulty tin dioxide clusters in stoichiometric matrix were studied. The angle and spectral characteristics of R2S and R2p reflection indexes of radiation with s- and p-polarization, both with their polarization difference p = R2 — R2 are measured in the wavelength range of 2 = 400—1600 nm. The obtained experimental characteristics p(6, 2) (в — angle of incidence) reflect peculiarities of the optical properties connected with film structure and morphology. Both surface plasmon-polaritons and local plasmons excited by s- and p-polarized radiation were detected. Their frequency and relaxation properties were obtained. The surface plasmon rasonance investigation procedure is established to be sensitive for tin dioxide film structure.
Опис
Ключові слова
электромагнитное излучение, поляризационная модуляция, кластеры, плазмон-поляритоны
Бібліографічний опис
Физика и техника полупроводников