Browsing by Author Кулинич, О. А.

Jump to: 0-9 А Б В Г Ґ Д Е Є Ж З И І Ї К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ю Я Ь | Э Ё Ъ Ы
                A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
or enter first few letters:  
Showing results 1 to 10 of 10
PreviewIssue DateTitleAuthor(s)
fotoel_15_2006_84-88.pdf.jpg2006CURRENT FLOW PROCESS SIMULATION IN METAL-SILICON STRUCTURESKulinich, O. A.; Smyntyna, Valentyn A.; Glauberman, Mykhailo A.; Chemeresiuk, Heorhii H.; Yatsunskiy, I. R.; Кулініч, О. А.; Сминтина, Валентин Андрійович; Глауберман, Михайло Абович; Чемересюк, Георгій Гаврилович; Яцунський, Ігор Ростиславович; Кулинич, О. А.; Смынтына, Валентин Андреевич; Глауберман, Михаил Аббович; Чемересюк, Георгий Гаврилович; Яцунский, Игорь Ростиславович
fotoel_19_2010_120-124.pdf.jpg2010FACTORS INFLUENCING THE YIELD STRESS OF SILICONSmyntyna, Valentyn A.; Kulinich, O. A.; Iatsunskyi, Igor R.; Marchuk, I. A.; Смынтына, Валентин Андреевич; Кулинич, О. А.; Яцунский, Игорь Ростиславович; Марчук, И. А.
фото_20_63-66.pdf.jpg2011INVESTIGATION OF NANOSTRUCTURED SILICON SURFACES USING FRACTAL ANALYSISSmyntyna, Valentyn A.; Kulinich, O. A.; Yatsunskiy, I. R.; Marchuk, I. A.; Pavlenko, Mykola V.; Смынтына, Валентин Андреевич; Кулинич, О. А.; Яцунский, Игорь Ростиславович; Марчук, И. А.; Павленко, Николай Николаевич; Сминтина, Валентин Андрійович; Кулініч, О. А.; Яцунський, Ігор Ростиславович; Марчук, І. О.; Павленко, Микола Миколайович
85 - 89.pdf.jpg2005Investigation of the causes of silicon MOS — transistor parameters catastrophic degradationKulinich, O.; Glauberman, Mihail A.; Chemeresuk, Geogriy G.; Yatsunsky, I.; Кулініч, О. А.; Глауберман, Михайло Абович; Чемересюк, Георгій Гаврилович; Яцунский, І. Р.; Кулинич, О. А.; Глауберман, Михайло Абович; Чемересюк, Георгий Гаврилович; Яцунский, И. Р.
Fotoel_17_61-63.pdf.jpg2008THE STRUCTURE INVESTIGATION OF NEAR-SURFACE LAYERS IN SILICON – DIOXIDE SILICON SYSTEMSSmyntyna, Valentyn A.; Kulinich, O. A.; Glauberman, Mykhailo A.; Chemeresiuk, Heorhii H.; Yatsunskiy, I. R.; Смынтына, Валентин Андреевич; Кулинич, О. А.; Глауберман, Михаил Аббович; Чемересюк, Георгий Гаврилович; Яцунский, Игорь Ростиславович; Сминтина, Валентин Андрійович; Кулініч, О. А.; Глауберман, Михайло Абович; Чемересюк, Георгій Гаврилович; Яцунський, Ігор Ростиславович
46-48.pdf.jpg2000Биоэквивалентный детектор ионизирующих излученийКулинич, О. А.; Садова, Н. Н.; Лисецкий, Л. Н.; Глауберман, Михаил Аббович; Садова, Г. В.; Сазонов, А. Н.
106-108.pdf.jpg2002Детектор поглощенной дозы ионизирующего излучения на основе моп-транзистораГлауберман, Михаил Аббович; Кулинич, О. А.; Садова, Н. Н.
СЕМСТ-4 тезисы_130.pdf.jpg2010Сенсорные свойства структур, сформированные на основе наноструктурированного кремнияСмынтына, Валентин Андреевич; Кулинич, О. А.; Яцунский, И. Р.; Марчук, И. А.
433+.PDF.jpg2007СТРУКТУРНО - ПОЛИМОРФНЫЕ ИЗМЕНЕНИЯ МАКРОДЕФЕКТОВ В КРЕМНИИ ПРИ ТЕМПЕРАТУРНОМ ВОЗДЕЙСТВИИСмынтына, Валентин Андреевич; Кулинич, О. А.; Глауберман, М. А.; Чемересюк, Г. Г.; Яцунский, И. Р.; Свиридова, О. В.
262+.PDF.jpg2006ТЕМПЕРАТУРНАЯ ЗАВИСИМОСТЬ ПАРАМЕТРОВ КРЕМНИЕВЫХ МОП И РIN-ФОТОПРИЕМНЫХ СТРУКТУР ПРИ НАЛИЧИИ СТРУКТУРНЫХ ДЕФЕКТОВСмынтына, Валентин Андреевич; Кулинич, О. А.; Глауберман, М. А.; Чемересюк, Г. Г.; Яцунский, И. Р.; Свиридова, О. В.