• Мікроелектронні датчики нового покоління для інтелектуальних систем 

      Лепіх, Я. І.; Гордієнко, Ю. О.; Дзядевич, С. В.; Дружинін, А. О.; Євтух, А. А.; Лєнков, С. В.; Мельник, В. Г.; Романов, В. О. (Астропринт, 2010)
    • Основы высоколокальной СВЧ сенсорики 

      Гордиенко, Ю. Е.; Бондаренко, И. Н.; Лепих, Ярослав Ильич; Проказа, А. М.; Гордієнко, Ю. О.; Бондаренко, І. М.; Лепіх, Ярослав Ілліч; Проказа, О. М.; Gordienko, Yu. E.; Bondarenko, I. N.; Lepikh, Yaroslav I.; Prokaza, A. M. (Одеський національний університет імені І. І. Мечникова, 2014)
      Созданы теоретические основы разработки нового поколения ближнеполевых микроволновых датчиков для контроля сред и функциональных материалов с широким спектром локальности, которые являются базой высоколокальной СВЧ сенсорики. ...
    • ТЕОРЕТИЧНІ АСПЕКТИ МОДЕЛЮВАННЯ ТА ПРОЕКТУВАННЯ РЕЗОНАТОРНИХ ЗОНДІВ ДЛЯ СКАНУЮЧОЇ МІКРОХВИЛЬОВОЇ МІКРОСКОПІЇ 

      Гордієнко, Ю. О.; Ларкін, С. Ю.; Лепіх, Я. І.; Лєнков, С. В.; Проценко, В. О.; Ваків, М. М.; Gordienko, Yu. E.; Lеrkin, S.Yu.; Lenkov, S. V.; Procenko, V. O.; Vakiv, M. M.; Гордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Лепих, Я. И.; Ленков, С. В.; Проценко, В. О.; Вакив, М. М. (Астрапринт, 2011)
      У роботі обґрунтовано загальні підходи до оцінки впливу характеристик резонаторних зондів на просторову роздільну здатність та контрастність зображень в скануючій мікрохвильовій мікроскопії. Зокрема, якісно і кількісно ...